INVESTIGADORES
BARUJ Alberto Leonardo
congresos y reuniones científicas
Título:
Aplicaciones de microscopía electrónica de doble haz FIB-SEM para el estudio de materiales
Autor/es:
A. BARUJ
Lugar:
Mar del Plata
Reunión:
Congreso; 20º Congreso Internacional de Materiales (SAM-CONAMET 2022); 2022
Institución organizadora:
Sociedad Argentina de Materiales
Resumen:
Se realizará una presentación introductoria a una herramienta potente para el estudio de materiales: un microscopio electrónico de barrido (SEM) provisto de un haz enfocado de iones (FIB).En esta exposición se hará un repaso sobre las principales características de un microscopio de doble haz, con énfasis en su utilización para la caracterización de materiales. También se hará una introducción a la técnica FIB y sus posibilidades de aplicación para el estudio y la manipulación de materiales a escala microscópica.
