Estudio de la morfología y calidad cristalina del ZnSe monocristalino

JAVIER NUÑEZ GARCÍA; ADRIANO GERACI; ALFREDO TOLLEY; MARÍA CRISTINA DI STEFANO; EDGARDO CABANILLAS; ANA MARÍA MARTÍNEZ; RAÚL D'ELÍA; EDUARDO HEREDIA; ALICIA B. TRIGUBÓ

REVISTA DE CIENCIA Y TECNOLOGíA

CENTRO DE INVESTIGACIÓN Y DESARROLLO TECNOLÓGICO, FACULTAD DE CIENCIAS EXACTAS, QUÍMICAS Y NATURALES, UNIVERSIDAD NACIONAL DE MISIONES

Lugar: Posadas; Año: 2014 vol. 21 p. 65 - 69

0329-8922

>Se estudia la calidad cristalina de una oblea comercial monocristalina de ZnSe (Cradley Crystals) combinando diferentes técnicas. Se utiliza microscopía óptica para la observación de defectos macroscópicos y figuras de corrosión obtenidas por revelado químico de la misma y microscopía electrónica de transmisión para determinar su calidad estructural, también se evalúa su transmitancia óptica por su aplicación en ventanas infrarrojas. Una presencia pequeña de defectos macroscópicos, un orden estructural notable entre dislocaciones y la baja densidad de dislocaciones y desorientación angular halladas entre subgranos adyacentes confirman una adecuada calidad cristalina para el empleo de este material en dispositivos optoelectrónicos.   Abstract The crystalline quality of a single crystalline commercial wafer of ZnSe (Cradley Crystals) is studied by combination of different techniques. Optical microscopy is used for the observation of macroscopic defects and etching figures which were obtained by chemical etching. Transmission electron microscopy is used to determine the structural quality of the sample. The optical transmittance of the wafer is also measured due its application as infrared window. Low presence of macroscopic defects, remarkable structural order between dislocations and small values of dislocation density and angular misorientation between adjacent subgrains confirm an adequate crystalline quality of this material for its use in optoelectronic devices.