BECAS
MARTÍNEZ Ana MarÍa
artículos
Título:
Propiedades físicas y cristalinas del Cd1-xZnxTe (0 ≤ x ≤ 1)
Autor/es:
ANA MARÍA MARTÍNEZ; MYRIAM HAYDEE AGUIRRE; RAÚL D´ELÍA; JAVIER NUÑEZ GARCÍA; ADRIANO GERACI; ALFREDO J.TOLLEY; EDUARDO A. HEREDIA; ALICIA B. TRIGUBÓ
Revista:
REVISTA MATéRIA
Editorial:
UNIV FED RIO DE JANEIRO
Referencias:
Lugar: Rio de Janeiro; Año: 2018
ISSN:
1517-7076
Resumen:
El Cd1-yZnyTe (0 ≤ y ≤ 1) y el ZnTe sonsemiconductores de la familia II-VI, que se usan en forma monocristalina porqueasí poseen mejores propiedades estructurales y eléctricas. El CZT y el ZnTedeben poseer alta calidad cristalina y eléctrica para ser usados, el primero endetectores de rayos X y γ, y como sustratos ordenadores de películasepitaxiales aptas para la detección de la radiación IR y el segundo para la fabricaciónde diodos láser y emisores de luz de alta intensidad, ambos casos en el verde.En este trabajo el CZT se sintetizó por el método de Bridgman, bajo ungradiente de temperatura de 10ºC/cm a velocidades de 1,66 mm/h y 3,22 mm/h paradiferentes concentraciones de Zn. Por otro lado, el ZnTe se sintetizó portransporte físico en fase vapor bajo un gradiente de temperatura de 6ºC/cm auna velocidad de 6 mm/día.Por medio de revelado químico y microscopía electrónica de transmisiónconvencional TEM y de alta resolución (HRTEM) se estudió la calidad cristalinade ambos materiales. Se observó que los lingotes de CZT tenían una densidad dedislocaciones promedio similar en todos los lingotes crecidos en ambasvelocidades y para todas las concentraciones mientras que el ZnTe mostró una menordensidad de dislocaciones. Las micrografías de TEM mostraron en todos estos materialesun orden estructural importante. Estas características indicaron que la calidadcristalina del CZT y del ZnTe era adecuada para fabricar dispositivosoptoelectrónicos.También se midió la Conductividad Eléctrica, Difusividad Térmica, CalorEspecífico y Coeficiente Seebeck en función de la temperatura en estosmateriales. Se analizó la influencia de las propiedades estructurales en suspropiedades físicas con el objeto de determinar la relación con los defectoscristalinos observados./span>