Uso de la técnica de absorción de rayos x con incidencia rasante para el estudio de estructura local en función de la profundidad en películas de óxidos

C. E. RODRÍGUEZ TORRES

San Miguel de Tucumán

Congreso; SÓLIDOS 2011 -CHARLA INVITADA; 2011

Las películas delgadas de óxidos semiconductores en arreglos de multicapas con componentes conductores y magnéticos presentan un creciente interés debido a la capacidad de manipular el espín electrónico y a la manifestación de otras nuevas propiedades. El campo de las nanoestructuras magnéticas ha devenido un área central de la ciencia de la materia condensada que recientemente ha conducido al desarrollo de un nuevo aspecto de la electrónica llamado ‘espintrónica'. Muchas de las propiedades magnéticas y de transporte están fuertemente influenciadas por la existencia de superficies e interfases por lo que el estudio de las propiedades macroscópicas requiere un conocimiento claro de las propiedades estructurales en la nanoescala y de técnicas capaces de ser selectivas a la profundidad. En este sentido, la versatilidad de geometrías y esquemas de detección posibles en relación con la Espectroscopía de Absorción de Rayos X (XAS), provee una herramienta adicional para el análisis de la estructura local. Puesto que la profundidad de penetración de los rayos X es fuertemente dependiente del ángulo de incidencia, incidiendo con ángulos próximos al crítico para la reflexión total es posible tener información sobre la estructura local en la superficie y variando el ángulo de incidencia tener un estudio del perfil en función de la misma. El empleo de XAS utilizando incidencia rasante (GI-XAS) permite obtener información de la estructura local como función de la profundidad. Aquí, presentaremos los resultados obtenidos utilizando GI-XAS, empleando equipamiento disponible en la línea de fluorescencia XRF del Laboratorio Nacional de Luz Sincrotrón (Campinas, Brasil), aplicada al estudio de películas de óxidos tales como TiO2 y SnO2 dopados con Co y ferritas de Zn. Se discutirá la relación entre la información obtenida con esta técnica y las propiedades magnéticas de estos dos sistemas.