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RESUMENSe implementó un accesorio para microscopio óptico comercial que permite el mapeo con alta resolución espacial de la difusividad térmica de la muestra. El sistema se basa en una técnica fototérmica recientemente desarrollada por el grupo consistente en la medición con un laser de prueba de la curvatura inducida por el calentamiento con un láser modulado. La señal es filtrada por medio de un lock-in registrando amplitud y fase en función de la frecuencia de modulación. El modelo desarrollado permite recuperar de la medición la difusividad térmica. Utilizando tecnología de fibras ópticas se garantiza lacolinealidad de los láseres, se colecta la señal y separan el bombeo y la detección para la medición. El haz es barrido por medio de dos escáneres galvanométricos de alta precisión. El accesorio fue montado en el puerto de cámara de un microscopio metalográfico Olympus BX51. Se presentarán resultados obtenidos en diversas muestras.

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