PUNTAS DE AFM OPTO-MECANICAS PARA MEDIDAS DE CONDUCTIVIDAD TERMICA Y COMPOSICION QUIMICA EN NANOFILMS

PEREZ MORELO, DIEGO; MINGKANG WANG; AKSYUK, VLADIMIR A.

Encuentro; XX Encuentro de Superficies y Materiales Nanoestructurados (NANO 2020-2021); 2021

La microscopia de fuerza atómica (AFM) es una de las herramientas má simportantes para el estudio de nano-films y nanoestructuras, sin embargo, muchos fenómenos dinámicos son o bien muy rápidos o débiles para una simple detección de AFM. El uso de cavidades opto-mecánica integradas está revolucionando el concepto de sensores, sin embargo, esto no ha impactado hasta ahora en técnicas de AFM. En este trabajo mostramos la fabricación de puntas de AFM, en la escala de los picogramos, integradas con un resonador fotónico para realizar mediciones de AFM[1] con una alta resolución temporal (< 10 ns) y simultáneamente una incerteza en el desplazamiento vertical del orden de los picometros. La habilidad para capturar eventos rápidos con alta precisión es aprovechada para medir la conductividad térmica en nano-films. La combinación de estas puntas fotónicas con técnicas de espectroscopia infrarroja, técnica conocida como PTIR (Photothermal Induced Resonance), nos permitirá además obtener información sobre la composición química de los nano-films. Los últimos avances en la fabricación de las puntas fotónicas, la optimización de la relación señal- ruido [2] y su aplicación en la técnica de PTIR son presentados y discutidos en este trabajo.REFERENCIAS1. J. Chae, V. Aksyuk, A. Centrone at. al. Nano Lett 17, 5587-5594 2017.2. M. Wang, D. J. Perez-Morelo and V. Aksyuk Optics Express 29 (5) 2021.