Análisis de la morfología superficial de películas de polietileno con recubrimiento de nanominerales

ANA L. GRAFIA; SILVIA E. BARBOSA; M. JULIA YAÑEZ

Buenos Aires

Congreso; 2do Congreso Argentino de Microscopía SAMIC´12; 2012

Asociación Argentina de Microscopía

La microscopía electrónica de barrido (SEM) permite analizar y estudiar las características superficiales de distintos materiales y es una de las más importantes en estudios que relacionan estructura/propiedad en materiales poliméricos [1]. Los diferentes tipos de señal generadas por la interacción del haz de electrones con la muestra proveen información específica de la superficie [2]. Así, la combinación de la señal de electrones secundarios y el microanálisis de rayos x por energía dispersiva (EDX) permite correlacionar simultáneamente la información topográfica con la composición elemental del área bajo estudio. Además, la sencillez operativa, la baja manipulación de las muestras y la rapidez del ensayo hacen de esta una técnica de mucho valor práctico.En este trabajo se presenta el estudio correlativo SEM-EDX para el análisis de la morfología superficial de recubrimientos de películas de polietileno (PE) con nanopartículas de sepiolita, talco y montmorrillonita, combinando las tres formas distintas de presentación cualitativa de datos que provee el uso del EDX: a) Espectro b) Mapeo de puntos y c) Barrido de línea. Se observaron directamente las superficies de frente y la de fractura criogénica de cada película. Se concluye que la combinación SEM-EDX, en todas sus formas cualitativas aprovechadas, resulta una técnica útil aplicada al análisis morfológico de los recubrimientos ya que al complementar la topografía con el análisis elemental se muestra de manera inequívoca la forma en que el material mineral se localiza en el área analizada