"Diseño de un Sensor Plasmónico tipo Kretschmann para la Determinación de Espesor de Óxido de Plata"

SANTILLÁN, JESICA MARÍA JOSÉ; VIDELA, FABIÁN ALFREDO; SCHINCA, DANIEL CARLOS; SCAFFARDI, LUCÍA BEATRÍZ

Tandil, Buenos Aires

Taller; VI TALLER DE ÓPTICA Y FOTOFÍSICA (TOPFOT) - I ENCUENTRO DE ESTUDIANTES EN ÓPTICA Y FOTOFÍSICA (EEOF): "ÓPTICA Y FOTOFÍSICA EN DIAGNÓSTICO MÉDICO - CELEBRACIÓN DE LOS 50 PRIMEROS AÑOS DEL LÁSER"; 2010

Universidad Nacional del Centro de la Provincia de Buenos Aires (UNCPBA)

Se estudian las características de las curvas de reflectancia para una película multicapa delgada de plata-óxido de plata en configuración tipo Kretschmann para ondas con estado de polarización p y s en función del ángulo de incidencia. Para polarización p se observa  que la resonancia de plasmón superficial (SPR) produce una disminución de la reflectancia total interna (TIR) para un ángulo mayor que el ángulo crítico. El ángulo para el cual se produce esta disminución depende de los espesores de las capas de plata y de óxido. Los parámetros de las curvas de reflectividad para ambas polarizaciones permiten establecer un protocolo de medida de espesor de óxido para un espesor inicial de plata de 45 nm, cuando ésta se expone a una atmósfera rica en oxígeno.