Determinación de la estructura electrónica de complejos de Ni(II) utilizando radiación sincrotrón.

LUCIANA C. JUNCAL; YANINA B. BAVA; JOSÉ ÁVILA; MARIA C. ASENSIO; CARLOS O. DELLA VÉDOVA; ROSANA M. ROMANO

Rosario

Congreso; XVIII Congreso Argentino de Fisicoquímica y Química Inorgánica; 2013

AAIFQ (Asociación Argentina de Investigación Fisicoquímica).

Introducción y objetivos: Compuestos de la familia de los xantatos y xantógenos son habitualmente utilizados en procesos de flotación de metales. Sin embargo, los mecanismos de interacción que permitirían comprender el proceso de flotación no han sido aún dilucidados. Como parte de un proyecto general tendiente a la determinación de la influencia de la adsorción de xantatos sobre la estructura electrónica superficial de minerales, se presenta en este trabajo un estudio de la estructura electrónica de complejos de Ni (II), utilizando ligandos conteniendo el grupo xantato: Ni(RX)2 (R = Me, Et, nPr, iPr; X= -OC(S)S-), Ni(RX)2py2 (py = NC5H5) y las correspondientes sales de potasio, KRX. Resultados y conclusiones: Las medidas se realizaron en la línea ANTARES del Sincrotrón SOLEIL empleando las técnicas de fotoemisión (PES, Photoelectron Spectroscopy) con diferentes energías de excitación en el rango entre 1000 y 100 eV, y de absorción de rayos X (XANES, X-ray Absorption Near Edge Structure), en las zonas de energías correspondientes a la ionización de átomos de C, N, Ni, S y O. Se compararon los resultados obtenidos para los niveles electrónicos internos (core levels), así como también para la región de valencia, en función de la variación de la cadena alquílica. Los resultados fueron además analizados comparando, para un mismo grupo R, las diferencias en la estructura electrónica para las especies Ni(RX)2, Ni(RX)2py2 y KRX, como se muestra en la Figuras 1 y 2.