PERSONAL DE APOYO
YAÑEZ Maria Julia
congresos y reuniones científicas
Título:
Änalisis de la morfologia superficial de películas de polietileno com recubrimiento de nanominerales¨
Autor/es:
GRAFIA ANA LUISA; BARBOSA SILVIA E; YAÑEZ MARIA JULIA
Lugar:
Buenos Aires
Reunión:
Congreso; 2do Congreso Argentino de Microscopía SAMIC 2012; 2012
Institución organizadora:
Asociacion Argentina de microscopia
Resumen:
La
microscopía electrónica de barrido (SEM) es una técnica ligada al estudio de
las características superficiales y una de las más importantes en estudios que
relacionan estructura/propiedad en materiales poliméricos. Los diferentes tipos
de señal generadas por la interacción del haz de electrones con la muestra,
proveen información específica de la superficie. Así, la combinación de la
señal de electrones secundarios y el microanálisis de rayos x por energía
dispersiva (EDX) permite correlacionar simultáneamente la información topográfica
con la composición elemental del área bajo estudio . Además, la sencillez
operativa, la baja manipulación de las muestras y la rapidez del ensayo hacen
de ésta una técnica de mucho valor práctico.
En
éste trabajo se presenta el estudio correlativo de SEM-EDX aplicado a la
evaluación del recubrimiento por spray de sepiolita en películas de polietileno.
Para el cual se aprovecharon las tres formas distintas de presentación
cualitativa de datos que provee el uso del EDX (espectro,
mapeo de puntos y barrido de línea). Con lo que se obtuvo una visión rápida de la forma
en que se encuentran las partículas sobre la superficie, concentración,
ubicación y dispersión,aspectos claves que ponen en evidencia la eficiencia del
recubrimiento.
