Aspectos estructurales y electrónicos de óxidos y especies moleculares determinados mediante XANES

LEANDRO ANDRINI

Bahía Blanca, Bs.As., Argenitna

Otro; IV Reunión de la Asociación Argentina de Cristalografía; 2008

Asociación Argentina de Cristalografía

Exposición Oral (invitado). 30/10/2009 Es ampliamente conocido que las técnicas de absorción de rayos X (XAS) permiten obtener información electrónica y estructural de diferentes sistemas de materiales (óxidos, metales, polímeros, etc.), y que el avance desarrollado en la instrumentación de laboratorios de radiación de luz sincrotrón ha intensificado el uso de estas técnicas. Los espectros XAS se dividen en dos regiones: XANES (X-ray Near Edge Structure) y EXAFS (Extended X-ray Absorption Fine Structure). XANES provee información electrónica del sistema (estados electrónicos desocupados, estados de oxidación, etc.) y simetrías involucradas (reglas de selección), en tanto que EXAFS provee información estructural (número de primeros vecinos, distancias, etc.). Mostramos cómo puede obtenerse cuantitativamente información estructural a partir de la información electrónica contenida en la región XANES, en sistemas en los que, por su naturaleza intrínseca, es dificultoso realizar experimentos EXAFS. Presentamos aquí las caracterizaciones estructurales obtenidas para diferentes tipos de óxidos, óxidos mixtos y especies moleculares a partir del estudio electrónico de la región de absorción de rayos X XANES. A la vez, mostramos que las características electrónico-estructurales pueden ser correlacionadas con algunas propiedades fisico-químicas (fotocatálisis, procesos catalíticos de epoxidación, etc.) de los sistemas estudiados.