INVESTIGADORES
CEPPI Sergio Andres
congresos y reuniones científicas
Título:
Espectrómetro de alta resolución para dispersión inelástica de rayos x.
Autor/es:
S. A. CEPPI; G. STUTZ
Lugar:
Bariloche
Reunión:
Workshop; Segundo Workshop de Usuarios Argentinos de Técnicas de Luz de Sincrotrón; 2013
Resumen:
La construcción de una nueva línea de luz en el LNLS, en el rango de los rayos x duros, basada en un wiggler superconductor como fuente de radiación, ofrece una posibilidad concreta de explotar la potencialidad de la especroscopía por dispersión inelástica de rayos x (IXSS) en el estudio de excitaciones electrónicas en la materia condensada. La superior calidad del haz de radiación en esta nueva línea abre la posibilidad de llevar a cabo nuevos experimentos de IXSS, además de incursionar en nuevos regímenes de la técnica, en comparación con los experimentos que se venían desarrollando en la línea XRD1, basada en un dipolo magnético como fuente de radiación. El salto cualitativo en la calidad de los experimentos que se podrán realizar en la nueva línea de luz exige un nuevo desarrollo de instrumental para IXSS. En este trabajo se presenta el diseño conceptual de un Nuevo espectrómetro para adaptar al goniómetro montado en la nueva línea de luz. Se analizan diferentes configuraciones de medición que optimizan la resolución en energía o el flujo de fotones, utilizando distintos cristales analizadores y los distintos modos de monocromatización y focalización del haz incidente con que cuenta la línea. El diseño está orientado a dos configuraciones básicas, una de alta resolución en energía (0, 5 eV, intensidad del haz incidente de 2×10^11 fotones/s/100mA) y otra de alto flujo (1×10^13 fotones/s/100mA fotones/s, resolución en energía de 1 eV). Esta facilidad experimental permitirá llevar a cabo estudios de la dinámica de excitaciones electrónicas en la materia condensada mediante experimentos de IXSS, tanto en el régimen resonante como en el no resonante (excitaciones electrónicas interbandas, excitación de plasmones), como también al estudio de bordes de absorción K y L en elementos livianos mediante dispersión Raman no resonante de rayos x duros.