INVESTIGADORES
TRINCAVELLI Jorge Carlos
congresos y reuniones científicas
Título:
Localización automática de partículas orgánicas en microanálisis con sonda de electrones
Autor/es:
JORGE TRINCAVELLI; RENÉ VAN GRIEKEN
Lugar:
Punta de Tralca, Chile
Reunión:
Congreso; IV Seminario Latinoamericano de Análisis por Técnicas de Rayos X; 1994
Institución organizadora:
Comité Organizador SARX 1994
Resumen:
<!-- /* Font Definitions */ @font-face {font-family:Univers; panose-1:0 0 0 0 0 0 0 0 0 0; mso-font-alt:Arial; mso-font-charset:0; mso-generic-font-family:swiss; mso-font-format:other; mso-font-pitch:variable; mso-font-signature:3 0 0 0 1 0;} /* Style Definitions */ p.MsoNormal, li.MsoNormal, div.MsoNormal {mso-style-parent:""; margin:0cm; margin-bottom:.0001pt; mso-pagination:none; font-size:12.0pt; mso-bidi-font-size:10.0pt; font-family:Univers; mso-fareast-font-family:"Times New Roman"; mso-bidi-font-family:"Times New Roman"; layout-grid-mode:line;} @page Section1 {size:612.0pt 792.0pt; margin:4.0cm 70.85pt 42.5pt 99.2pt; mso-header-margin:4.0cm; mso-footer-margin:42.5pt; mso-page-numbers:1; mso-paper-source:0;} div.Section1 {page:Section1; mso-endnote-numbering-style:arabic;} --> Se estudia el problema de la localización automática de partículas de bajo número atómico mediante microanálisis con sonda de electrones. Primeramente se compara el nivel de ruido asociado a la señal para diferentes tipos de imagen y substrato. Luego se analizan las razones señal-ruido producidas por partículas orgánicas de 2 um y 0.269 um con y sin recubrimiento de oro. Finalmente, se realiza un análisis automático para alguno de los casos considerados.