INVESTIGADORES
VAZQUEZ Cecilia Irene
congresos y reuniones científicas
Título:
Caracterización superficial de sustratos conductores modificados covalentemente con un emisor orgánico de luz
Autor/es:
MAYORGA, FABRICIO; FERNÁNDEZ, RICARDO ARIEL; VAZQUEZ, CECILIA IRENE; ARGÜELLO, JUAN E.; COMETTO, FERNANDO PABLO; DASSIE, SERGIO A.
Reunión:
Encuentro; IX Encuentro de Química y Física de Superficies. I Encuentro de Biología de superficies; 2022
Resumen:
El desarrollo de nuevos materiales, especialmente de los materiales emisores de luz, lleva un largo camino recorrido. En los últimos 30 años se ha invertido gran esfuerzo para diseñar y funcionalizar nuevos materiales con el fin de mejorar la inyección y transporte de huecos y/o electrones en dispositivos orgánicos emisores de luz (OLEDs)1.Por su parte, el área de la electroquímica asociada con los electrodos modificados ha tenido un auge promisorio en los últimos años, impulsado por los estudios en monocapas autoensambladas y la nanociencia aplicada a la fabricación de distintos dispositivos electronicos2.En este trabajo, se propone modificar un conductor transparente con un emisor orgánico de luz unido covalentemente, y analizar las propiedades electroquímicas y luminiscentes de dicho electrodo modificado. En este contexto, está claro que en el desarrollo y caracterización de dispositivos electroluminiscentes es de gran importancia, caracterizar tanto sus propiedades fotoelectroquímicas como superficiales. En este caso, nuestro trabajo está centrado en la caracterización química superficial mediante espectroscopía fotoelectrónica de rayos X (XPS) de un conductor transparente que ha sido modificado covalentemente con un emisor orgánico.Como primer parte del trabajo se describe la síntesis de un complejo de rutenio silanizado y su caracterización fotoquímica. Posteriormente, se presenta la caracterización electroquímica de dicho complejo anclado sobre un vidrio conductor modificado con óxido de Indio y Estaño (ITO). Finalmente se incursiona en un estudio más detallado del anclado del complejo de rutenio sobre la superficie de ITO mediante su caracterización superficial por XPS.
