Low Energy Ion Spectrometry: una técnica que permite estudiar la primer capa atómica.

F. C. ALVIRA; R. VIDAL; J. FERRON; I. VAQUILA

Villa Giardino, Cordoba

Congreso; XIII Congreso Argentino de Catálisis. 2do Congreso MERCOSUR de Catálisis. Trabajo presentado; 2003

En el presente trabajo se muestra la capacidad de la técnica Low Energy Ion Spectrometry – Time of Flight (LEIS-TOF) para estudiar propiedades en la primer capa atómica. La combinación de LEIS con la detección TOF hace que la técnica sea prácticamente no destructiva, que se detecten partículas cargadas y neutras dando una detallada información de los procesos de intercambio de carga ión-superficie. Esta información es crucial para el entendimiento de fenómenos de envenamiento en catálisis. En este trabajo se aplica LEIS-TOF al estudio de Si(100) monocristalino reconstrucción (2x1). Se analiza la forma en que varia el intercambio de carga a un ángulo de incidencia razante empleando como ión primario He+ a 2 y 4 keV. Los resultados obtenidos indican que hay variación de la fracción de carga al variar la energía del proyectil incidente.