ANALISIS DE TRANSFERENCIA DE CARGA EN UNA SUPERFICIE DE Si(100).

I. VAQUILA; F. C. ALVIRA; R. VIDAL; J. FERRON

Bariloche, Argentina

Congreso; JORNADAS SAM/CONAMET/SIMPOSIO MATERIA 2003; 2003

Sociedad Argentina de Metalurgia

La combinación de la Espectrometría de Iones de Baja Energía (LEIS) con la detección de partículas por Tiempo de Vuelo (TOF) es una poderosa herramienta para estudiar una gran variedad de problemas de superficies. A esto se debe sumar que ésta técnica es la única que permite detectar hidrógeno en la superficie. En efecto, la combinación de la extrema sensibilidad de LEIS para obtener información sobre la estructura y composición de una superficie con la habilidad de TOF para detectar partículas cargadas y neutras puede proveer una detallada información del proceso de intercambio de carga. Combinado con modelos teóricos, esta clase de mediciones nos permite obtener un mapa microscópico detallado de la reactividad local de la superficie. Esta información es de suma importancia, por ejemplo, en el área de catálisis. En este trabajo se aplica LEIS-TOF al estudio de Si(100) monocristalino reconstrucción 2x1. Se analiza la forma en que varía el intercambio de carga a un ángulo de incidencia/salida cercanos a la normal a la superficie empleando como ion primario He+ a 4keV. Los resultados obtenidos indican que mientras los iones que colisionaron con átomos de la superficie tienen una probabilidad de supervivencia como ion del orden de 10% los que penetraron mas en el interior del cristal fueron fuertemente neutralizados siendo su probabilidad de supervivencia como ion del orden de 0%. Esto se debe a que los últimos tienen una fuerte interacción con la densidad de electrones del cristal.