Low Energy Ion Spectrometry: Una técnica que permite estudiar la primer capa atomica

F. C. ALVIRA; R. VIDAL; J. FERRON; I. VAQUILA

Actas Congreso Argentino de Catalisis

Sociedad Argentina de Catalisis

Lugar: Villa Giardino, Cordoba; Año: 2003 p. 23 - 28

En el presente trabajo se muestra la capacida de la técnica Low Energy -Time of Flight (LEIS-TOF) para estudiar propiedades en la primer capa atómica. La combinación de LEIS con la detección TOF hace que la técnica sea prácticamente no destructiva, que se detecten partículas cargadas y neutras dando una detallada información de los procesos de intercambio de carga ión-superficie. Esta información es crucial para el entendimiento de fenómenos de envenenamiento en catálisis. En este trabajo se aplica LEIS-TOF al estudio de Si(100) monocristalino reconstrucción (2x1). Se analiza la forma en que varia el intercambio de carga a un ángulo de incidencia razante empleando como ión primario He+ a 2 y 4 keV. Los resultados obtenidos indican que hay variación de la fracción de carga al variar la energía del proyectil incidente.