PERSONAL DE APOYO
AVILA Ana Julia
convenios, asesorías y/o servicios tecnológicos
Título:
Microscopía Electrónica de Barrido (SEM) con Sistema de Microanálisis de Rayos x por energía dispersiva (EDS)
Autor/es:
ANA J. AVILA; MARÍA JULIA YAÑEZ; CECILIA GUTIÉRREZ AYESTA; CARINA CANO; CARLOS JONES
Fecha inicio:
2018-03-01
Fecha finalización:
2018-10-01
Campo de Aplicación:
Varios campos
Descripción:
El sistema de microanálisis permite la realización de rápidos análisis químicos de elementos de número atómico desde el Litio (Z=3). Su límite de detección es de 0.1% en peso. Mediante la aplicación conjunta de ambas técnicas (SEM-EDS) es posible obtener la distribución de los elementos químicos seleccionados en un área, línea o punto que está siendo irradiado con el haz de electrones.
