DESDE LA NANO A LA MESO ESCALA: TKD, EBSD Y MET. COMBINANDO MICROSCOPÍAS PARA LA CARACTERIZACIÓN DE MATERIALES

NATALIA S. DE VINCENTIS; MARIA FLORENCIA GIORDANA; MARTINA C. AVALOS

Rosario

Jornada; XVII Jornadas de Ciencias, Tecnologías e Innovación; 2023

UNR

Las técnicas tradicionales de microscopía electrónica, conocidas como microscopía por transmisión (MET) y microscopía de barrido (MEB) hacen posible caracterizar estructuras micro o nanoscópicas, por lo que son de gran aplicabilidad en la ciencia de materiales. El uso de un MET permite alcanzar resoluciones por debajo de 1 nm pero la zona de exploración es muy pequeña. Utilizando un MEB, la zona de análisis es del orden de los mm pero la resolución es del orden de los 5 nm. En un MEB es posible anexar un detector para la captura y análisis de patrones producidos por difracción de electrones retrodispersados, técnica conocida como EBSD, que suma a las imágenes información de orientación cristalográfica con resolución angular menor a 20 nm en áreas de exploración del orden del mm. En la última década comenzó a implementarse la difracción de Kikuchi en transmisión (TKD), una técnica que vincula información local y global con muy buena resolución. Estas técnicas son de gran utilidad para la caracterización de estructuras de materiales severamente deformados, materiales con precipitados, meteoritos, etc. El objetivo del presente trabajo es explorar las capacidades de las técnicas mencionadas y la combinación de la información que brindan para la caracterización microestructural de distintos materiales. Para esto, se trabajó principalmente con materiales de estructura submicrométrica, sea ésta homogénea, por ejemplo generada por laminación en frío, o heterogénea, obtenida por extrusión de chapas a igual canal angular (ECASE) y tratada térmicamente. Se obtuvo una muy buena correlación entre las técnicas mencionadas, combinando información estructural y orientacional obtenida de una misma zona.