Análisis de orientaciones cristalinas determinadas por TKD y TEM

N.S. DE VINCENTIS; M.F. GIORDANA; M.C. AVALOS

Congreso; 7mo Congreso Argentino de Microscopia SAMIC 2022; 2022

Asociación Argentina de Microscopia SAMIC

La difracción de Kikuchi en transmisión (también llamada TKD) surge como una aplicación de la ya ampliamente conocida Difracción de Electrones Retrodifundidos (EBSD). Si bien esta última técnica permite un análisis a nivel microscópico de una muestra, combinando no sólo información “local” sino que además posibilita efectuar una caracterización más “global” al permitir combinar información de distintas zonas del material, su resolución se restringe a 30-50 nm, lo que hace que su aplicación resulte limitada para el estudio de materiales con estructuras nanoscópicas, como por ejemplo las que resultan en materiales con Deformación Plástica Severa (SPD). Hace aproximadamente una década surgió la técnica de TKD, impulsada por usuarios con gran experiencia en EBSD, que observaron que al trabajar con esta técnica, pero reemplazando la muestra “bulk” por una lámina delgada y cambiando la geometría de trabajo de “reflexión” a “transmisión”, lograron reducir el volumen de interacción de los electrones en la muestra y la resolución podía llegar a 5-10 nm. En este trabajo se contrastarán la microestructura y la orientación obtenida punto a punto en una muestra usando TKD y Microscopía Electrónica de Transmisión (TEM). Esta última técnica tiene mayor resolución que TKD pero, si no se cuenta con un detector de EBSD en el microscopio, no pueden hacerse barridos sino que debe rotarse la muestra cada vez que se desee determinar la orientación. Establecer y caracterizar la correlación entre ambas técnicas permitiría combinar la información microestructural de gran resolución con la orientación cristalina correspondiente, enriqueciendo el conocimiento sobre el mismo para usuarios de cualquiera de las dos técnicas mencionadas.