DESARROLLO DE UN EQUIPO PARA LA OBTENCIÓN DE LA CURVA DE FOSFORESCENCIA DE MATERIALES TERMOLUMINISCENTES

P MOLINA; M SANTIAGO; M LESTER; E CASELLI

Tucuman, Argentina

Congreso; 84 Reunión Nacional de Física de la A.F.A.; 1999

Asociación de Físicos Argentinos

Cuando se irradia una muestra de un material aislante o semiconductor, los electrones excitados por la radiación ocupan estados metaestables (trampas) originados en los defectos del cristal.  La desexcitación de dichos electrones puede acelerarse si se eleva la temperatura de la muestra. Este proceso suele ir acompañado por emisión de luz (termoluminiscencia). Si se mide la intensidad de la luz emitida en función del tiempo cuando la temperatura de la muestra se mantiene constante (ensayo de fosforescencia), se obtiene una curva de la que puede extraerse información relevante acerca de la estructura de defectos del material bajo estudio (energía de activación, frecuencia de escape, concentración de defectos, etc.). En este trabajo se describe el desarrollo y prueba de una interfase apropiada para medir desde una PC los parámetros de interés durante el ensayo de fosforescencia (temperatura de la muestra, intensidad de la luz emitida por la misma, etc.). También se presenta un algoritmo de control con feedback para controlar por PC la temperatura de la muestra durante la experiencia.