Influence of the resonant Raman scattering on XRF

HÉCTOR JORGE SÁNCHEZ; MARÍA CECILIA VALENTINUZZI

Campinas, Brasil

Congreso; Reunión Anual de Usuarios de LNLS (RAU 2005); 2005

Se utilizó radiación de sincrotrón para estudiar el efecto Raman resonante en muestras puras. Los espectros de fluorescencia de rayos X presentan características singulares debidas a procesos de dispersión, entre los cuales está el efecto Raman resonante. Este es un proceso de dispersión inelástica que tiene lugar cuando la energía incidente es menor y próxima al borde de absorción del elemento irradiado. Aparecen picos en el espectro que interfieren con el pico fluorescente, dominan el fondo de la línea fluorescente y limitan la sensitividad de elementos presentes en bajas concentraciones.