INVESTIGADORES
ESQUIVEL Marcelo Ricardo Oscar
congresos y reuniones científicas
Título:
Análisis de los estados sucesivos durante la molienda reactiva de Ni-Al
Autor/es:
E.ZELAYA; M.R. ESQUIVEL; D. SCHRYVERS
Lugar:
Ciudad de Buenos Aires
Reunión:
Congreso; VI Reunión Anual de la Asociación Argentina de Cristalografía; 2010
Institución organizadora:
Asociación Argentina de Cristalografía
Resumen:
Las aleaciones de Ni-Al son de interés tecnológico debido a su bajo nivel de oxidación a altas temperaturas. Asimismo, estas aleaciones presentan una transformación martensítica entre el 60%at y el 65%at Ni. Sin embargo, el elevado punto de fusión (800 ºC) de estas aleaciones implica un muy elevado costo de fabricación muy elevado. Por este motivo es de sumo interés la producción mediante molienda reactiva del intermetálico Ni-Al. En este trabajo se exploran las diferentes estructuras alcanzadas a diferentes tiempos de molienda y para diversos tratamientos térmicos en un aleación formada a partir de Al y 65%at Ni. Se empleo un molino de baja energía Uniball Mill II (Australian Instruments) para obtener los diversos intermetalicos para diferentes tiempos de molienda. Los difractogramas fueron tomados en un difractómetro Philips PW 1701/01 en tanto los patrones de difracción y las microgrfias fueron tomadas en un microcopio FEI CM200 ultra twin y en un FEI TECNAI de emisión de campo. Las identificaciones de las diferentes fases fueron realizadas correlacionando análisis Rietvel de R-X y patrones de difracción de anillos obtenidos mediante microscopía electrónica de transmisión (TEM). Luego de 20 hs de molienda la formación de intermetálicos es detectada en los patrones de difracción de anillos de TEM. Sin embargo, ningún pico de difracción que no pueda ser atribuido a los componentes Ni o Al puros pudo ser observado en los difractogramas. A mayores tiempos de molienda el análisis Rietvel de los difractogramas muestra la formación de intermetálicos y la ausencia de los aleantes puros. No obstante, para estos tiempos de molienda zonas del orden de 20 nm de Ni puros pueden ser detectadas en el TEM, empleando métodos como campo oscuro de alto ángulo o barrido EDX en línea. Otro resultado, esta vez común a ambas técnicas, es el ensanchamiento de los picos de difracción, tanto en los difractogramas como en los patrones de anillos de TEM. Este fenómeno puede estar asociado a la amorfización del material. Sin embargo luego de un recocido a 600 ºC por 24 hs los difractogramas revelan picos que pueden ser asociados a la síntesis de fases compactas del íntermetálico Ni-Al . Asimismo, estas mismas fases compactas pueden ser detectadas mediante microscopía electrónica de alta resolución.