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El Servicio de Microscopía Electrónica de Barrido del Centro Atómico Bariloche desarrollasus actividades como tal desde el año 1989. Actualmente, el Servicio formaparte del Departamento de Caracterización de Materiales (GIA-GAATEN) y del INN(Instituto de Nanociencia y Nanotecnología). El Servicio administra dos MicroscopiosElectrónicos de Barrido. Un Microscopio de emisión termiónica (W) FEI- INSPECTS50 con una resolución nominal de 6 nm. El microscopio tiene modos de operaciónde alto y bajo vacío con detectores ETD, vCD y EDS. El otro microscopio es deemisión de campo (Cristal de W) denominado FEI-NOVA NANOSEM 230 con unaresolución nominal de 1,6 nm. El microscopio tiene modos de operación de alto ybajo vacío con detectores ETD, TLD, vCD, STEM, EBSD, GAD y EDS. En este trabajo,vamos a mostrar como el uso combinado de las diferentes técnicas asociadas amicroscopía electrónica de barrido, nos permiten asesorar a Investigadores, Docentes,Estudiantes e Integrantes de distintos ámbitos pertenecientes a Instituciones Públicasy Empresas Privadas en los campos de las Ciencias de los Materiales, Ciencias de laVida y Ciencias Forenses. En particular, mostraremos cómo el uso combinado de lastécnicas de microscopía y el análisis y simulación de datos nos permiten resolver problemasasociados a la Ciencia, a la Industria y a la Tecnología. En un primer ejemplomostraremos cómo la reflectividad selectiva de los elementos más electromásicos queC permiten detectar partículas en impurezas en una matriz carbonosa. Esta propiedad,asociada a la interacción elástica del haz de electrones con el material, puedeser simulada utilizando el método de Monte Carlo a través del Software Casino ®.Como resultado de la misma, es plausible obtener, seleccionando el voltaje e intensidadde corriente adecuados, la identificación positiva de partículas impurificantesen una matriz de filtro carbonoso. Esta identificación ocurre simultáneamente conel uso de dos modos de imagen, con determinación de características topográficas yde contraste composicional. El análisis se completa con la identificación cualitativacomposicional de los elementos constituyentes de la impureza por EDS. En este trabajo,también mostraremos el uso de los distintos detectores y modos de operaciónpara caracterizar superficies de cortes de tamaño nanométrico obtenidos a partir demuestras de ciencias de la vida donde se caracteriza la composición elemental de lasdistintas etapas de fijado y tratamiento de contraste químico. Asimismo, se mostrarála necesidad de conocer y poder discriminar la información obtenida por distintosmétodos de obtención de imagen para discriminar la información obtenida en mues-356107a Reunión de la Asociación Física Argentina 357tras paleontológicas. Asimismo, se mostrarán simulaciones de crecimientos cristalinosque permitirán caracterizar por medio del software de simulación Winmorph ® elcrecimiento de distintas partículas correspondientes a óxidos substituidos de Ce y Ni.Estos resultados estarán acompañados de mapeos composicionales y obtención deimágenes en distitnos modos para acompañar la presentación de los resultados. Esteconjunto de discusiones de imágenes, simulaciones y análisis será usado para mostrarcomo el Servicio de Microscopía del Centro Atómico Bariloche asesora a la Ciencia,a la Industria y a la Tecnología.

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