ADAPTACION DE SENSORES INFERENCIALES: ANALISIS MEDIANTE CARTAS DE CONTROL PARA EL AJUSTE DEL BIAS

SANSEVERINATTI, CARLOS I.; PERDOMO, MARIANO M.; SANGOI, EMMANUEL; CLEMENTI, L.A.; VEGA JORGE R.

Montevideo

Congreso; IEEE URUCON 2021; 2021

Institute of Electrical Electronics Engineers (IEEE)

Este trabajo propone una metodología basada en el análisis estadístico a través de una carta de control, para adaptar sensores inferenciales utilizados para el monitoreo de variables de calidad en procesos industriales continuos. La propuesta radica en adaptar el término de bias del sensor inferencial cuando se detecta un comportamiento inestable del error de predicción, el cual se calcula en base a mediciones de laboratorio realizadas a intervalos regulares. El monitoreo del error de predicción se realiza mediante una carta de control de rango móvil, la cual se diseña en simultaneo con la etapa de calibración del sensor inferencial. La metodología propuesta se evalúa sobre la base de un ejemplo simulado, correspondiente a la síntesis continua de un caucho industrial. Para tal fin, se simuló numéricamente el proceso, la correspondiente toma de muestras y el registro de variables medibles, usando un modelo detallado del proceso basado en primeros principios y ajustado a valores de planta. Los resultados muestran que la metodología propuesta requiere de una menor frecuencia de adaptación del bias en comparación a los métodos clásicos de adaptación, sin que se deteriore su capacidad predictiva.