INVESTIGADORES
PELUSO Miguel Andres
congresos y reuniones científicas
Título:
Caracterización estructural y electrónica de Óxidos de Manganeso mediante XRD y XAFS
Autor/es:
SANTIAGO FIGUEROA; FÉLIX G. REQUEJO; E. J. LEDE; LUCIANO LAMAITA; MIGUEL A. PELUSO; JORGE E. SAMBETH
Lugar:
Brasil
Reunión:
Congreso; IX Seminario Latinoamericano de Análisis por Técnicas de Rayos X (SARX 2004).; 2004
Resumen:
no dispongo del archivo
