INVESTIGADORES
VEGA Daniel Alberto
congresos y reuniones científicas
Título:
Determinación de tamaño de dominios en copolímeros bloque nanoestructurados mediante difusión de espín
Autor/es:
SAINZ AB; DANIELO BJ; ACOSTA RH; MONTI GA; VEGA DA; VILLAR MA; VALLES EM
Lugar:
Salta
Reunión:
Congreso; 92 Reunion Anual de Fisica; 2007
Institución organizadora:
Asociacion Fisica Argentina
Resumen:
Los sistemas auto ensamblados son las unidades sobre las que se apoyan varias nanotecnologías avanzadas basadas en métodos de fabricación denominados "bottom-up" [Stix G. Sci. Am. textbf285, 26 (2001). Ball P. Nature textbf413, 667 (2001)]. Los copolímeros bloque son ejemplos bien conocidos de sistemas auto ensamblados, en los cuales bloques químicamente distintos se separan en microbases cuando los bloques son incompatibles, formando dominios periódicos a nanoescala. Las periodicidades de estas estructuras están en el rango de 10-200 nm. Varias técnicas se pueden emplear para el estudio de microestructuras, entre ellas la resonancia magnética nuclear (RMN) en sólidos. Métodos basados en SSNMR correlacionan la estructura y movilidad molecular con las fases o dominios heterogéneamente distribuidos. En este trabajo aplicamos la difusión de espín de protones en experimentos de RMN [K. Schmidt-Rohr and H. W. Spiess, textit Multidimensional Solid-Sate NMR and Polymers, Academic Press Limited, London 1996], en un copolímero tribloque SBS (estireno-butadieno-estireno) [Villar M. A., Rueda D. R., Ania F., Thomas E. L, Polymer textbf43, 5139 (2002)], para determinar el tamaño de los dominios rígidos (poliestireno). Se conoce que la estructura de este copolímero es lamelar y se determinó un tamaño de dominio rígido de 7.9 +/- 0.8 nm. tamaño de los dominios rígidos (poliestireno). Se conoce que la estructura de este copolímero es lamelar y se determinó un tamaño de dominio rígido de 7.9 +/- 0.8 nm. tamaño de los dominios rígidos (poliestireno). Se conoce que la estructura de este copolímero es lamelar y se determinó un tamaño de dominio rígido de 7.9 +/- 0.8 nm.