INVESTIGADORES
VEGA Daniel Alberto
congresos y reuniones científicas
Título:
Determinación de tamaño de dominios en copolímeros bloque nanoestructurados mediante difusión de espín
Autor/es:
SAINZ AB; DANIELO BJ; ACOSTA RH; MONTI GA; VEGA DA; VILLAR MA; VALLES EM
Lugar:
Salta
Reunión:
Congreso; 92 Reunion Anual de Fisica; 2007
Institución organizadora:
Asociacion Fisica Argentina
Resumen:
Los sistemas auto ensamblados son las
unidades sobre las que se apoyan varias
nanotecnologías avanzadas basadas en
métodos de fabricación denominados
"bottom-up" [Stix G. Sci. Am. textbf285, 26
(2001). Ball P. Nature textbf413, 667 (2001)].
Los copolímeros bloque son ejemplos bien
conocidos de sistemas auto ensamblados, en
los cuales bloques químicamente distintos se
separan en microbases cuando los bloques son
incompatibles, formando dominios periódicos
a nanoescala. Las periodicidades de estas
estructuras están en el rango de 10-200 nm.
Varias técnicas se pueden emplear para el
estudio de microestructuras, entre ellas la
resonancia magnética nuclear (RMN) en
sólidos. Métodos basados en SSNMR
correlacionan la estructura y movilidad
molecular con las fases o dominios
heterogéneamente distribuidos. En este
trabajo aplicamos la difusión de espín de
protones en experimentos de RMN [K.
Schmidt-Rohr and H. W. Spiess, textit
Multidimensional Solid-Sate NMR and
Polymers, Academic Press Limited, London
1996], en un copolímero tribloque SBS
(estireno-butadieno-estireno) [Villar M. A.,
Rueda D. R., Ania F., Thomas E. L, Polymer
textbf43, 5139 (2002)], para determinar el
tamaño de los dominios rígidos (poliestireno).
Se conoce que la estructura de este copolímero
es lamelar y se determinó un tamaño de
dominio rígido de 7.9 +/- 0.8 nm.
tamaño de los dominios rígidos (poliestireno).
Se conoce que la estructura de este copolímero
es lamelar y se determinó un tamaño de
dominio rígido de 7.9 +/- 0.8 nm.
tamaño de los dominios rígidos (poliestireno).
Se conoce que la estructura de este copolímero
es lamelar y se determinó un tamaño de
dominio rígido de 7.9 +/- 0.8 nm.