INVESTIGADORES
PIZZIO Luis Rene
congresos y reuniones científicas
Título:
Síntesis y caracterización de zeolitas Y modificadas por incorporación de ácido tungstofosfórico
Autor/es:
CANDELARIA LEAL MARCHENA; SILVINA GÓMEZ; LILIANA B. PIERELLA; LUIS R. PIZZIO
Lugar:
Santa fé
Reunión:
Congreso; XXIII Congreso Iberoamericano de Catálisis; 2012
Resumen:
En este estudio se utilizó TiO2 Evonik P-25 (con estructura cristalina anatasa-rutilo en una proporción
70:30), el cual fue suspendido en 15 ml de agua Milli-Q con una concentración de 5 g l-1 e irradiado durante 6
horas con una sonda de inmersión de ultrasonido (que opera a 20 KHz y con una intensidad acústica de 1.2 W mL-
1). Se realizó la caracterización del material utilizando microscopía de barrido electrónico SEM, espectroscopía de
reflectancia difusa UV-vis, espectroscopía fotoelectronica de rayos X (XPS) y resonancia de espin electrónica
(ESR) de baja temperatura.2 Evonik P-25 (con estructura cristalina anatasa-rutilo en una proporción
70:30), el cual fue suspendido en 15 ml de agua Milli-Q con una concentración de 5 g l-1 e irradiado durante 6
horas con una sonda de inmersión de ultrasonido (que opera a 20 KHz y con una intensidad acústica de 1.2 W mL-
1). Se realizó la caracterización del material utilizando microscopía de barrido electrónico SEM, espectroscopía de
reflectancia difusa UV-vis, espectroscopía fotoelectronica de rayos X (XPS) y resonancia de espin electrónica
(ESR) de baja temperatura.-1 e irradiado durante 6
horas con una sonda de inmersión de ultrasonido (que opera a 20 KHz y con una intensidad acústica de 1.2 W mL-
1). Se realizó la caracterización del material utilizando microscopía de barrido electrónico SEM, espectroscopía de
reflectancia difusa UV-vis, espectroscopía fotoelectronica de rayos X (XPS) y resonancia de espin electrónica
(ESR) de baja temperatura.-
1). Se realizó la caracterización del material utilizando microscopía de barrido electrónico SEM, espectroscopía de
reflectancia difusa UV-vis, espectroscopía fotoelectronica de rayos X (XPS) y resonancia de espin electrónica
(ESR) de baja temperatura.). Se realizó la caracterización del material utilizando microscopía de barrido electrónico SEM, espectroscopía de
reflectancia difusa UV-vis, espectroscopía fotoelectronica de rayos X (XPS) y resonancia de espin electrónica
(ESR) de baja temperatura.
