INVESTIGADORES
PEREZ Roberto Daniel
congresos y reuniones científicas
Título:
ANALISIS DE SUPERFICIES POR REFLEXION TOTAL DE RAYOS X
Autor/es:
SÁNCHEZ H.J.; PÉREZ R.D.; RUBIO M.; PÉREZ C.A.
Lugar:
Punta de Tralca
Reunión:
Congreso; IV Seminario Latinoamericano de Análisis por Técnicas de Rayos X - SARX94; 1994
Resumen:
En este trabajo se muestra la factibilidad de análisisde superficies mediante la detección de radiación característica encondiciones de reflexión total de rayos X. Se desarrolla el formalismo teóriconecesario para correlacionar intensidades fluorescentes con parámetrossuperficiales tales como densidad, concentración y espesor de capa superficial.Se presentan mediciones experimentales de muestras analizadas en la estaciónde fluorescencia y microanálisis de los Laboratorios Nacionales de Frascatidonde se obtuvieron excelentes resultados. Finalmente se discuten lasposibilidades reales de estudios de perfil de profundidad y análisis dedifusión en substratos.
