Fuerza fotoinducida por un dipolo magnético en nanoantenas dieléctricas

M. POBLET; E. CORTÉS; G. GRINBLAT; S. A. MAIER; Y. LI; A. V. BRAGAS

Ciudad Autónoma de Buenos Aires

Congreso; XIX Encuentro de superficies y materiales nanoestructurados; 2019

Hemos desarrollado una herramienta capaz de medir las fuerzas eléctricas y magnéticas producidas por la luz incidente en los hot spots de nanoantenas dieléctricas, basada en un microscopio combinado óptico-de fuerza atómica (AFM). La particularidad de estas antenas es que su resonancia óptica puede ser sintonizada por geometría. En este caso nos basaremos en antenas de germanio con forma toroidal cuya resonancia es, principalmente, de carácter dipolar magnético alrededor de los 800 nm.El método de adquisición es el llamado Photo Induced Force Microscopy (PIFM). La idea general es excitar ópticamente la muestra y medir la respuesta del material detectándolo con la punta del AFM, capaz de medir fuerzas en el rango de piconewton. Mostramos en este trabajo el alcance, y presentamos algunos resultados preliminares.