MÉTODO GRÁFICO PARA FACILITAR EL ANÁLISIS DE LAS CARACTERÍSTICAS CORRIENTE-TENSIÓN EN INTERFACES METAL- ÓXIDO

C. ACHA

Bariloche

Encuentro; XVII Encuentro de Superficies y Materiales Nanoestructurados; 2017

CAB-CNEA

El estudio de las características corriente-tensión (IV) es una herramienta de gran utilidad a lahora de determinar cuáles son los mecanismos microscópicos que dominan el transporte eléctrico através de una interfaz metal-óxido [1-2]. Si esta interfaz conforma un dispositivo de memoria resistiva(memristor), este conocimiento puede resultar clave para mejorar sus capacidades, al haberdeterminado cuáles son las propiedades microscópicas relevantes que hay que modificar.En este trabajo [3] presentaré la utilidad de un método gráfico basado en el exponente γ =dLn(I)/dLn(V ) con el objeto de realizar un análisis preliminar de las características IV sin tener queproceder a ajustar los datos experimentales con cada uno de los posibles mecanismos de conduccióntípicamente presentes en los dispositivos de memoria resistiva no-volátil. Se mostrarán algunosejemplos experimentales [4-6] para ilustrar su uso así como algunas simulaciones basadas en unmodelo de circuito que proponemos para describir el comportamiento eléctrico de los memristoresbipolares