Determinación del contenido de anortita en plagioclasas zonadas mediante imágenes de elecretrodispersados y mapas de rayos x

V. GALVÁN; D. FRACCHIA; E. CRESPO; G. CASTELLANO

Malargüe

Congreso; 95a Reunión Anual de la Asociación de Física Argentina; 2010

Asociación Física Argentina

El grupo de las plagioclasas está constituido por una serie continua de minerales cuya composición varía de un extremo sódico (conocido como albita) hasta uno cálcico (denominado anortita). Mediante el monitoreo de las variaciones composicionales de las plagioclasas en secciones de cristales se puede reconstruir la historia del sistema petrogénico ya que estos minerales contienen información sobre la composición del medio en el cual crecieron. Las imágenes de electrones retrodispersados pueden ser de gran ayuda a la hora de detectar estos cambios de composición, ya que en dichas imágenes el contraste está dado por la variación del número atómico medio de la muestra [1], que en las plagioclasas está directamente relacionado con la proporción de Ca y Na presente. Ginibre et al. [2] propusieron un método para determinar el contenido de anortita que consiste en cuantificar algunos puntos en la imagen a lo largo de un perfil y determinar una relación entre el nivel de gris y el contenido de anortita en esos puntos. El contenido de anortita en todo el perfil se determina interpolando dicha relación. Si bien este método ha sido aplicado en numerosas ocasiones, presenta algunas dificultades experimentales y de procesamiento. Por un lado, las cuantificaciones y por ende la calibración deben realizarse a lo largo del mismo perfil, el cual debe ser representativo de toda la muestra. Por otro lado, si el equipo de medición no cuenta con una rutina de medición automática de espectros de rayos x, el número de puntos analizados debe reducirse notablemente.En este trabajo se propone una estrategia alternativa, que consiste primero en cuantificar el contenido de Ca y Na en los mapas de rayos x y luego realizar una calibración punto a punto en toda la imagen de electrones retrodispersados. De esta manera se puede realizar un análisis completo de la imagen, reduciendo el número de interpolaciones y con ello las incertezas asociadas. El método se aplicó al análisis de un corte delgado de una plagioclasa volcánica y los resultados obtenidos fueron comparados con los resultados arrojados por el método de Ginibre et al. A diferencia de otros procedimientos, la metodología presentada aquí, basada en la combinación de imágenes de electrones secundarios y mapas de rayos x, puede ser utilizada para obtener perfiles de concentración aun cuando el nivel de gris esté determinado por más de dos elementos.Referencias[1] Goldstein, J., Newbury, D., Echlin, P., Joy, D., Romig, A., Lyman, C., Fiori C., Lifshin, E., 1992. Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists, Plenum Press, New York.[2] Ginibre, C., Kronz, A., Gerhard, W., 2002. High-resolution quantitave imaging of plagioclase composition using acumutated backscattered electron images: new constrain on oscillatory zoning. Contrib Mineral Petrol 142, 436-448.