Caracterización vibracional de microhilos de ZnO: Influencia de defectos estructurales en las bandas características.

BARZOLA-QUIQUIA JOSE; BAJALES NOELIA; ARCINIEGAS JAIMES, DIANA M.; PAULA BERCOFF

Seminario; Seminario Intensivo de Materia Condensada y Física Estadística (SIMAFE) 2020; 2020

El óxido de Zinc (ZnO) es actualmente un semiconductor muy atractivo, por sus potencialesaplicaciones en espintrónica. Uno de los factores que determinan sus propiedades físicas estárelacionado a la presencia de defectos estructurales [1,2], por lo que el estudio de éstos esfundamental para proyectar el uso de estructuras de ZnO en dispositivos optoelectrónicos.En este trabajo se presentan resultados de caracterización vibracional de microhilos de ZnO pormicro-espectroscopía Raman, empleando longitudes de onda incidentes de 514 y 633 nm. Lacaracterización morfológica del material se realizó por microscopía confocal (Fig. 1a) y óptica.Se evidenció la presencia de numerosos defectos superficiales originados en el procesocarbotérmico de síntesis (Fig. 1b), con gran dispersión en tamaños y de formas irregulares. Serealizó un análisis comparativo de espectros Raman adquiridos en distintos puntos demicrohilos de ZnO de ~10 μm de diámetro, en zonas con y sin defectos, para ambas longitudesde onda. En las regiones de los microhilos con defectos se observaron corrimientos en laposición de la banda característica, E2, hacia frecuencias mayores y una disminución en laintensidad relativa, con respecto a las zonas donde no se evidenció la presencia de defectos(Fig. 1c). Estas diferencias podrían ser atribuidas a efectos de confinamiento y/o calentamientoinducido por la energía del láser incidente.