Espectros de rayos X, propiedades estructurales y electrónicas de óxidos, determinados por cálculos de primeros principios

G. GRAD; E. GONZÁLEZ; E. BONZI

Santa Fé

Congreso; 104a Reunión de la Asociación Física Argentina; 2019

Asociación Física Argentina

Los óxidos tienen múltiples aplicaciones tecnológicas por ello la importancia de su estudio. En este trabajose analizaron SiO2, Al2O3, CdO y MgO mediante espectros de rayos X calculados con el método FP-LAPW.Se utilizaron diferentes potenciales (PBE, LDA + U y TB-mBJ) dentro del formalismo de la DFT (Teoría de la Funcional Densidad). Con el fin de analizar la estructura electrónica de dichos sistemas, las densidades deestados y los espectros de XANES y XES para los bordes K y L23 se calcularon incluyendo la técnica del core hole. Se determinaron los parámetros de red, los band-gap y se hicieron cálculos mediante el método de Baderpara cuantificar el carácter iónico o covalente de estos óxidos. Los resultados fueron comparados con datos experimentales obteniéndose un buen acuerdo. Para este trabajo se utilizó el Cluster Mendieta del CCAD-UNC,que forma parte del SNCAD-MinCyT, Argentina.