IFEG 20353
INSTITUTO DE FISICA ENRIQUE GAVIOLA
Unidad Ejecutora - UE
congresos y reuniones científicas
Título:
Análisis de super cie de películas delgadas de titanio modi cado con platino mediante voltampero- metría cíclica y microscopía de fuerza atómica
Autor/es:
AVALLE, LUCIA BERNARDITA; FILIPPIN FRANCISCO ANGEL; ELIZABETH SANTOS
Lugar:
La Falda
Reunión:
Congreso; SAMIC; 2018
Resumen:
El avance de la tecnología en los dispositivos electroquímicos está orientado hacia el desarrollo de materiales de electrodos con bajo contenido de platino (Pt), que se dispersan en materialessoportes como el carbón y los óxidos metálicos, por ejemplo dióxido de titanio (TiO 2 ). El titanio (Ti) es un material termodinámicamente estable ante la corrosión debido a la presencia de una película de óxido pasiva sobre su superficie formada espontáneamente. La determinación de un factor de rugosidad juega un papel importante en la calidad y el control de la superficie en los materiales de electrodos. Este factor puede ser estimado por técnicas electroquímicas y pormediciones topográficas con un microscopio de fuerza atómica AFM (del inglés, Atomic Force Microscopy).El objetivo de esta presentación es determinar un factor de rugosidad de películas delgadas de Ti modificado con Pt, utilizando AFM y técnicas electroquímicas.
