IFEG   20353
INSTITUTO DE FISICA ENRIQUE GAVIOLA
Unidad Ejecutora - UE
congresos y reuniones científicas
Título:
La microscopia electrónica una herramienta para la caracterización de materiales
Autor/es:
JOSE ALBERTO RIVEROS DE LA VEGA
Lugar:
Tenuco - Chile
Reunión:
Workshop; 1er Workshop de Microscopìa Electrónica Hitachi. y sus Aplicaciones en la Investigación en Chile; 2017
Institución organizadora:
Universidad de la Frontera- Temuco - Chile
Resumen:
La microscopía electrónica de barrido es una importanteherramienta para el estudio de los materiales, que está enconstante evolución. Día a día mejora su capacidad de observacióny actualmente, las resoluciones de los SEM de última generación,alcanzan dimensiones sub-nanométricas. En los últimos 15 años,han crecido las posibilidades de caracterizar distintos tipos demateriales, tanto orgánicos como inorgánicos, con variados gradosde humedad. La evolución de los sistemas de detección asociadosa los desarrollos tecnológicos, hacen que los distintos tipos deimágenes que generan estos microscopios, tales como topográficas(en 2D y 3D), de contraste químico, de rayos x, deconcentraciones, o de textura de materiales con estructurascristalográficas, nos abren nuevas perspectivas para su estudio Laevolución en el procesamiento de imágenes y el software asociadoal tratamiento de los datos, abre un campo en el desarrollo de lostemas de investigación inimaginable hace una década atrás.Las nuevas plataformas de los microscopios SEM provistos congrandes cámaras de observación, nos permiten asociarles a lasmismas, accesorios o espectrómetros que los transforman en unpoderoso laboratorio destinado a la caracterización de materiales.Una herramienta muy utilizada asociadas a un SEM, son los hacesde iones focalizados con los que se podría realizar distintos tipos deprocesamiento de la muestra, mientras es observada con el haz deelectrones en alta resolución. Entre los espectrómetros, podríamoscontar con un Raman y un EDS, que nos permitiría obtenermorfología en la escala micro-nanométrica complementada con lacomposición química e identificación elemental. Otra posibilidadsería asociar un microscopio de fuerza atómica para realizarmediciones combinadas con mayor resolución en simultáneo con laobtención de la composición química mediante EDS. Podríamos,además, montar dentro de la cámara del microscopio un micro CT yrealizar tomografías de pequeñas muestras con resoluciones delorden de algunos micrones y en algunas ellas, observar suestructura cristalográficas en 3D.