TEM DE ALTA RESOLUCIÓN EN MATERIALES

A.M. CONDÓ; F.C. LOVEY; A.J. TOLLEY

Mar del Plata, Argentina

Congreso; Congreso Binacional SAM / CONAMET 2005; 2005

Asociación Argentina de Materiales y Sociedad Chilena de Metalurgia y Materiales

Se presentan los fundamentos de la microscopía electrónica de transmisión de alta resolución (HRTEM), remarcando sus potencialidades y limitaciones. Esta técnica permite obtener imágenes de los materiales a escala atómica y por lo tanto es fundamental para el estudio de nanoestructuras, estructuras cristalinas y defectos. Se dan ejemplos de soluciones aportadas a problemas de ciencia de materiales, tales como: metodología para el estudio de defectos planares, fallas de apilamiento e interfaces, con aplicaciones a materiales con memoria de forma y materiales con estructura de superred; estudio del grado de coherencia y estructura interna de precipitados en aleaciones de aluminio; estudio de nanopartículas en materiales para optoelectrónica.