Microestructura de Materiales Deformados por Medio de Técnicas de Rayos X

N. DE VINCENTIS; R. BOLMARO; M. AVALOS

Concepción del Uruguay

Congreso; 3er. Encuentro de Jóvenes Investigadores en Ciencia y Tecnología de Materialers; 2010

El objetivo del trabajo es la evaluación de microestructuras de deformación en materiales policristalinos mediante técnicas de rayos X. Los espectros de difracción contienen información adicional a los usualmente obtenidos mediante análisis de posición (estructura cristalina), corrimiento (tensiones residuales) o ensanchamiento de picos (tamaño de grano por la fórmula de Scherrer). En el caso de materiales con baja orientación preferencial los resultados pueden ser analizados más detalladamente haciendo uso de modelos microestructurales que permiten obtener tamaños de dominios de difracción no siempre relacionados con el tamaño de los cristales. Por ejemplo, también la influencia de maclas y fallas de apilamiento puede ser introducida en los cálculos. Además, teniendo en cuenta la diferente respuesta del fenómeno de difracción en relación al tamaño de dominio y acumulación de arreglos de dislocaciones, se puede evaluar la microdeformación remanente y la densidad promedio de dislocaciones. En el presente trabajo se aplicará la técnica a materiales diversos y se efectuarán cálculos que permitan, en un trabajo posterior, la comparación de los resultados con técnicas diferentes como microscopía óptica o electrónica. De las técnicas más conocidas se aplicará la de Williamson-Hall con las modificaciones debidas a Ungár y Warren.