Quantitative analysis by EBSD of grain structure in dúplex stainless steel

MARÍA C. MARINELLI; JAVIER W. SIGNORELLI; IRIS ALVAREZ

Rosario, Argentina

Congreso; 10th Inter-American Congress of Electron Microscopy 2009 and 1st Congress of the Argentine Society of Microscopy; 2009

Sociedad Argentina de Microscopia

La microscopía óptica y electrónica de barrido son herramientas que se utilizan para examinar la estructura de los materiales. El pulido y el ataque químico revelan la estructura de granos y fases de un material. Sin embargo, este método no siempre revela la totalidad de los granos. Una técnica moderna, Electron backscattered Diffraction (EBSD), permite medir orientaciones del cristal y a través de estos resultados es posible representar y diferenciar la distribución de todos los granos. En este mapa de orientaciones un grano es una región donde la orientación de cada cristal es la misma con una cierta tolerancia. En conclusión, una representación completa y cuantitativa de la microestructura puede establecerse mediante EBSD. El objetivo es, a partir de los datos de EBSD obtenidos para un acero bifásico austero-ferrítico, hacer un análisis cuantitativo de la existencia de la típica relación de orientación cristalográfica Kurjumov – Sachs (KS) entre granos vecinos con estructuras fcc y bcc respectivamente. Para ello se desarrollaron herramientas que permitieron obtener la orientación media de los ángulos de Euler para cada grano y sabiendo la posición punto a punto identificar granos vecinos. De esta manera se logró verificar la existencia de KS entre un grano y sus vecinos.