IFIR 05409
INSTITUTO DE FISICA DE ROSARIO
Unidad Ejecutora - UE
congresos y reuniones científicas
Título:
INFLUENCIA DE LA MICROESTRUCTURA DE LAMINAS DELGADAS DE NI-TI, OBTENIDAS POR SPUTTERING, SOBRE LAS PROPIEDADES DE MEMORIA DE FORMA
Autor/es:
JORGE MALARRIA; LUCIO ISOLA; BRUNO MALVASIO; MARIA FLORENCIA GIORDANA
Lugar:
La Falda
Reunión:
Congreso; 5to Congreso Argentino de Microscopia SAMIC 2018; 2018
Institución organizadora:
Asociaci¨®n Argentina de Microscopia SAMIC
Resumen:
En este trabajo se produjeron laminas delgadas de NiTi mediante la tecnica de magnetrón sputtering utilizando dos magnetrones MAK-130-V con blancos: NiTi (composicion equiatomica) yTi (99.99 % de pureza). Las deposiciones se realizaron a 3 mTorr de presion de Ar con lossustratos a temperatura ambiente. Se obtuvieron laminas en estado amorfo de 8 mm por 25 mm yun espesor aproximado de 5 micrometros. La composicion quimica final de las muestras se determino porEDS-SEM en un microscopio Leitz Wetzlar, obteniendose como resultado Ni-53.8%atTi con unaincerteza del 0.3%at. Para la recristalizacion de las mismas se realizaron diferentes tratamientos termicos (TT) entre 500 C y 1000 C por 1h, con posterior temple en agua. Luego de los TT, lasmuestras fueron analizadas por XRD, difractometro Philips XPert Pro MPD con un tubo de Cu. Lastemperaturas de transformacion se determinaron midiendo la variacion de la resistencia de las laminas en funcion de la temperatura por el metodo de cuatro puntas. El estudio detallado de lamicroestructura se realizo mediante TEM, microscopios PHILIPS EM300 y JEOL JEM2100-PLUS.
