IFIR 05409
INSTITUTO DE FISICA DE ROSARIO
Unidad Ejecutora - UE
congresos y reuniones científicas
Título:
PREPARACIÓN DE LÁMINAS DELGADAS POR FOCUSED ION BEAM PARA MICROSCOPÍA DE TRANSMISIÓN
Autor/es:
MORENO M.F.; HABERKORN N.; GIORDANA F.; VARELA M.E.; GOLMAR F.; GRANELL P.; ZELAYA E.; CONDÓ A.
Lugar:
Bariloche
Reunión:
Congreso; Congreso de la Asociación Argentina de Microscopia; 2016
Resumen:
El microscopio de doble haz FIB/SEM (Focused Ion Beam/Scanning Electron Microscope) es una herramienta fundamental para la ciencia de materiales que permite caracterizar virtualmente cualquier tipo de material en la nanoescala, incluyendo materiales bulk, películas delgadas y nanopartículas. En este trabajo se describe el proceso de preparación de láminas delgadas (lamellas) utilizando el microscopio de doble haz, y se mencionan tres ejemplos de muestras preparadas por esta técnica que pudieron ser caracterizadas con éxito por microscopía de transmisión.
