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El conocimiento de la distribución de orientaciones en un policristal masivo permite asociar las propiedades macroscópicas anisotrópicas con el comportamiento monocristalino previamente conocido o inferir esas propiedades mediante modelos físico-computacionales. La complejidad de esta tarea crece con el número de fases presentes, el tipo y cantidad de defectos desarrollados y la presencia de texturas. Las texturas u orientaciones preferenciales de cristales, determinadas en forma cuantitativa, permiten incorporar dependencias de las propiedades macroscópicas más importantes de los policristales: mecánicas, eléctricas, magnéticas, piezoeléctricas, etc., siempre que las mismas dependan solamente de la fracción volumétrica de las orientaciones. Las propiedades que dependen además de las superficies de contacto entre los cristales de un policristal requieren de información más detalladas de las orientaciones relativas y de los planos de contacto (texturas locales, microtexturas). Las texturas son medidas mediante diversos métodos por rayos X, neutrones o difracción de electrones retrodispersados (EBSD) en un SEM, cada técnica con sus ventajas y desventajas, y esta última casi en forma exclusiva como método de medición de texturas locales y/o microtexturas. Simultáneamente, o en experimentos especialmente dedicados, se puede determinar la presencia o densidad de defectos. La correlación entre ambas mediciones puede ser dificultosa en los casos de mayor complejidad y los métodos de evaluación cuantitativa escasos. Se hará una introducción rápida a las técnicas de medición y análisis de texturas y a las de determinación de defectos por difracción de rayos X. Los distintos grados de dificultad se ejemplificarán con casos de la literatura y propios. Se efectuará una comparación con EBSD y se mostrarán avances recientes de esta técnica encontrados en la literatura.