ESTUDIO DE MICROESTRUCTURA GENERADA POR DEFORMACIÓN PLÁSTICA SEVERA EN ACERO F138 A TRAVÉS DE EBSD

N. DE VINCENTIS; M. AVALOS; A. KLIAUGA; M. FERRANTE; R. BOLMARO

Congreso; 3er Congreso Argentino de Microscopía; 2014

Las propiedades mecánicas de un material están determinadas por la microestructura desarrollada en el mismo, por lo que resulta de gran importancia estudiar la estructura generada luego de un dado proceso de deformación. Las técnicas de Deformación Plástica Severa (SPD) resultan de gran efectividad en la reducción del tamaño de grano de un material [1]. A este grupo de técnicas pertenece la de extrusión por canal angular (Equal Channel Angular Extrusion - ECAE), la cual se caracteriza por mantener fija la sección de la muestra durante el proceso de deformación, lo cual no sólo determina que la deformación sufrida sea puramente de corte sino que además permite que la muestra pueda volver a deformarse, imponiéndose en el material una deformación de Von Mises de 0.67 en cada pasada. Resulta de gran interés determinar la microestructura resultante de cada paso de deformación, para lo cual se necesita usar técnicas que permitan no sólo observar la estructura de granos, maclas y dislocaciones resultante sino además obtener información que caracterice cuantitativamente la microestructura del material. Para esta caracterización puede usarse la difracción de rayos X, técnica que permite la determinación de densidad de dislocaciones y tamaños de dominios de difracción pero no muestra la distribución espacial de la microestrucutra [2].Una herramienta de gran utilidad para la caracterización tanto microestructural como orientacional de un material es la Difracción de Electrones Retrodispersados (EBSD), que consiste en medir los patrones de Kikuchi en cada punto sobre la superficie de un material para luego indexarlos a través de un software y determinar gracias a ellos la orientación cristalográfica correspondiente al punto medido [3]. Si el detector de EBSD se instala en un Microscopio Electrónico de Barrido se pueden analizar superficies de varios micrones o hasta milímetros de lado, obteniéndose la orientación de cada pixel y permitiendo así calcular la desorientación relativa entre ellos. Esta información no sólo posibilita la observación de las orientaciones de cada grano en la zona de estudio sino que además permite calcular ciertos índices relacionados con las desorientaciones y caracterizar numéricamente la microestructura resultante.