IFIR   05409
INSTITUTO DE FISICA DE ROSARIO
Unidad Ejecutora - UE
congresos y reuniones científicas
Título:
Estudio de la nanoestructura desarrollada en aluminio por deformación plástica severa
Autor/es:
R.E. BOLMARO; V. SORDI; A. KLIAUGA; N. S. DE VINCENTIS; E. BENATTI; M. C. AVALOS; F. CRUZ GANDARILLA; H-G. BROKMEIER
Lugar:
Córdoba
Reunión:
Congreso; I Reunión Latinoamericana de Cristalografía - IX Reunión de la Asociación Argentina de Cristalografía; 2013
Institución organizadora:
Asociación Argentina de Cristalografía
Resumen:
Las propiedades de volumen de un material son fundamentalmente dictadas por su composición y, en segundo lugar, por la microestructura. La misma depende sustancialmente del método de fabricación. Metodologías de fabricación complejas pueden producir casi cualquier microestructura imaginable. Sin embargo las mismas pueden ser difíciles de producir tanto en cuanto al tiempo necesario como a la energía o el costo. La búsqueda de métodos de fabricación similares a los que se encuentran en uso industrialmente pero con efectos profundos en la microestructura y las propiedades es una de las posibilidades que ofrece la deformación plástica severa. La obtención de materiales nanoestructurados tiene como objetivo conseguir propiedades fundamentalmente producto de la existencia de volúmenes desordenados en una fracción mayor y nanoestructuras más controladas que en los materiales tradicionales. Las técnicas de Deformación Plástica Severa (SPD) más comunes, como ECAE, HTP y ARB adolecen de dificultades de implementación tecnológica a gran escala debido simplemente a causas geométricas y dimensionales. Una técnica sugerida para superar esas limitaciones es la laminación asimétrica (AR), mediante la cual un gran porcentaje de deformación de corte debería poder inducirse en una chapa de metal. El proceso resulta útil para la inducción de deformaciones plásticas severas en un aluminio 1050ª, con un mínimo cambio de sección transversal de la chapa. La deformación total es calculada a partir de mediciones sobre marcadores externos y las consecuencias sobre la textura y las propiedades mecánicas son medidas por rayos X y ensayos de tensión estándar. El estudio cuantitativo de materiales nanoestructurados puede efectuarse por medio de difracción de rayos X y, especialmente, por luz sincrotrón. Se mostrarán las técnicas más usuales de análisis rayos X para la determinación de defectos estructurales como arreglos de dislocaciones, tamaños de dominios, maclas y fallas de apilamiento.