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Las propiedades de volumen de un material son fundamentalmente dictadas por su composición y, en segundo lugar, por la microestructura. La misma depende sustancialmente del método de fabricación. Metodologías de fabricación complejas pueden producir casi cualquier microestructura imaginable. Sin embargo las mismas pueden ser difíciles de producir tanto en cuanto al tiempo necesario como a la energía o el costo. La búsqueda de métodos de fabricación similares a los que se encuentran en uso industrialmente pero con efectos profundos en la microestructura y las propiedades es una de las posibilidades que ofrece la deformación plástica severa. La obtención de materiales nanoestructurados tiene como objetivo conseguir materiales cuyas propiedades sean fundamentalmente producto de la existencia de volúmenes desordenados en una fracción mayor y más controlada que en los materiales tradicionales. El estudio cuantitativo de materiales nanoestructurados, en forma estadísticamente representativa, puede efectuarse por medio de difracción de rayos X y, especialmente, por luz sincrotrón. En el presente trabajo se presentan resultados de estudios por difracción de luz sincrotrón en diversos sistemas material-proceso típicos de la tecnología de deformación severa. Se mostrarán las técnicas más usuales de análisis de los espectros de rayos X usados para la determinación de defectos estructurales como arreglos de dislocaciones, tamaños de dominios, maclas, fallas de apilamiento, etc. Se mostrarán resultados en materiales metálicos, aleaciones, mono y multifásicos, deformados por torsión a alta presión en caliente, ECAE, laminación severa, ARB y laminación asimétrica. Se discutirán las propiedades mecánicas esperadas y posibles usos de los materiales estudiados.