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La rápida miniaturización de sistemas micro-electromecánicos (MEMS), microsensores y dispositivos ópticos está dando lugar a circuitos integrados con características tridimensionales, algunos de los cuales poseen piezas móviles en la escala del micrómetro y del nanómetro. De este modo, se están planteando nuevos retos en el desarrollo de técnicas no destructivas y no invasivas para analizar dichos sistemas, no sólo en la etapa de desarrollo sino también en la de producción. Las técnicas ópticas de campo completo proveen una alternativa a los métodos convencionales de inspección, dado que son rápidos, robustos y no destructivos. Además, estos métodos poseen una elevada sensibilidad y posibilitan la automatización del análisis de datos. Una de estas técnicas ópticas es la Interferometría de Speckle Temporal (más conocida por sus siglas en inglés TSPI, \textit{Temporal Speckle Pattern Interferometry}). Dicha técnica se emplea para medir campos de desplazamientos dependientes del tiempo, a partir del análisis de una secuencia de interferogramas de speckle adquiridos a lo largo de toda la historia de la deformación del objeto. Como herramienta de medición y diagnóstico de componentes mecánicas, la técnica de TSPI ofrece las siguientes ventajas: no está limitada por el material del objeto a estudiar, permite la medición del campo de desplazamientos sobre una superficie extensa, no necesita estar en contacto con el espécimen y posee un amplio rango de medición. Por lo tanto, estas características convierten a dicha técnica en un método muy apropiado para estudiar de manera no destructiva la integridad estructural de un amplio espectro de componentes mecánicas. La técnica de TSPI se basa en la medición de los cambios de fases ópticos producidos por diferentes estados de deformación del objeto mediante la adquisición de una secuencia de interferogramas de speckle. Uno de los métodos más utilizados para recuperar dicha distribución de fase es el basado en la transformada de Fourier. Sin embargo, cuando los cambios de fases no son monótonos, este método requiere de la introducción de una portadora temporal para superar la ambig\"{u}edad del signo. En esta comunicación se presenta un nuevo método de recuperación de la distribución de fase para ser usado en TSPI, el cual se basa en el cálculo de un coeficiente de correlación entre los sucesivos interferogramas de speckle. Las ventajas y limitaciones del método propuesto con respecto a la técnica basada en la transformada de Fourier se determinan mediante el análisis diferentes series de interferogramas de speckle generados por simulación numérica. Finalmente, se analiza el comportamiento del método propuesto al procesar datos experimentales.