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Se crecieron películas ferroeléctricas libres de plomo de composición estequiométrica Na0:5K0:5NbO3 (NKN) y de aproximadamente 280 nm de espesor a diferentes temperaturas sobre sustratos de Si/SiO2/TiOx/Pt, mediante el empleo de la técnica sol-gel modificada o CSD como método de obtención y sping coating como técnica de deposición. En nuestro trabajo, los resultados muestran una la alta volatilidad de sodio, durante el proceso de sinterización de los recubrimientos, los cuales se realizaron en atmósfera de aire. Se observó la presencia de corrientes de fuga en las películas, y pérdida ferroeléctrica al tratar de saturar los ciclos de histéresis de las muestras. Además, se observó que existen otros factores que también son determinantes sobre las propiedades eléctricas y la influencia que la temperatura tiene sobre dichos factores, como son la microestructura y la cristalización de los recubrimientos.