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El desarrollo de nuevas tecnologías orientadas a la conservación del medio ambiente, ha tenido gran impacto en la búsqueda del reemplazo de componentes nocivos para la salud. En el caso de sistemas microelectromecanicos (MEMS) y materiales piezoeléctricos la miniaturización requerida no debe afectar las propiedades eléctricas de los mismos. En la actualidad se han logrado grandes avances en el desarrollo de tales dispositivos, pero últimamente se comenzó con la búsqueda del reemplazo de composiciones libres de plomo, que sustituyan especialmente a las de PZT (Pb(TixZr1-x)O3). En el presente trabajo,se estudiaron películas delgadas de composiciones libres de plomo de perovskitas (K0,5Na0,5)NbO3 (NKN), con exceso de iones Na+, debido a que durante el tratamiento térmico se registro una alta volatilidad de este ión. Esto fue comprobado previamente a partir de los Análisis Térmico diferencial (DTA) y Termogravimetrico (TG). Los recubrimientos fueron depositados sobre sustratos de Si/SiO2/TiOx/Pt usando una técnica sol-gel modificado CSD (Chemicals solución deposition), apartir de una solución de precursores principalmente orgánicos y para la deposición se utilizo la técnica de spin-coating con control de atmosfera. Los recubrimientos se caracterizaron estructuralmente mediante la técnica de difracción de rayos X, con incidencia rasante, (GIXRD: con un segundo por paso) ; morfológicamente mediante Microscopia de Fuerza Atomica (AFM), la caracterización térmica de polvos se llevo acabo mediante Termogravimetria (TG) y Análisis Térmico diferencial (DTA) y se presentan los resultados y la vinculación de los resultados con los parámetros de los procesos de síntesis. Se estudian los orígenes del comportamiento de la constante dieléctrica, las corrientes de fuga y las curvas de histéresis ferroeléctricas para distintas muestras sobre las que se depositaron electrodos de platino.