C. P. QUINTEROS; M. J. CORTÉS BURGOS; M. GRANADA; J. GUIMPEL

INT-INN_03RM-001 Procedimiento para la medición de reflectometrías de rayos X empleando el difractómetro Empyrean

2017-08-31/2018-01-22;

Método de caracterización por reflectometría de rayos X; Ciencia y cultura-Ciencia y tecnologia;

DANIEL VELÁZQUEZ RODRÍGUEZ; LEONARDO MORBIDEL; PABLO A. COSTANZO CASO; CÉSAR PÉREZ; RUBÉN BENAVIDES; MARA GRANADA; JULIÁN MILANO; ALEJANDRO BUTERA

INT-INN_03RM-003

2022-03-08/2022-03-08;

Mecánica; Ciencia y cultura;