Estudio de la dependencia de la resistencia con la temperatura en películas delgadas de Ag-Sb-Te

A. PIARRISTEGUY; ROCCA, J.A.; UREÑA, M.A.; FONTANA, M.

Santa Fe

Congreso; 104ª Reunión Nacional de la Asociación Física Argentina; 2019

Asociación Física Argentina

os vidrios calcogenuros se encuentran entre los materiales promisorios para la fabricación de memorias no volátiles. Estos materiales presentan el fenómeno de realizar un cambio de faseinducido por un pulso eléctrico y pasar de una estructura amorfa a una cristalina disminuyendo en varios ordenes de magnitud su resistencia eléctrica (phase change materials, PCM). Esteproceso puede revertirse volviendo al estado amorfo y permitiendo así el ciclado de la memoria.En trabajos previos hemos comprobado que películas delgadas de Sb 70 Te 30 presentan el fenómeno de cambio de fase. De acuerdo a la bibliografía [1,2] el agregado de metales mejora laperformance de las memorias. En este trabajo hemos introducido plata en el sistema Sb 70 Te 30 . Se fabricaron películas delgadas de Ag x (Sb 0,7 Te 0,3 ) 100−x mediante la técnica de ablación láser apartir de blancos de la misma composición obtenidos en el laboratorio. Tanto los blancos como las películas recién depositadas fueron caracterizadas por difracción de rayos X. Se estudió lavariación de la resistencia de las películas con la temperatura para observar si es posible inducir la cristalización de las mismas y evaluar si el cociente R amorfo /R cristalino es óptimo para suaplicación a memorias del tipo PCM.